3D 激光扫描显微系统 (LSM)
发布时间：
2014-03-24
浏览次数：
1079
仪器设备指标
厂家：Keyence
型号：VK-X100/X200
分辨率：Z向0.5 nm，X向1 nm，高度范围0-7 mm
用途：VK-X 系列 3D 激光扫描显微系统扩展了激光显微镜的功能，兼具光学显微镜、粗糙度仪、激光轮廓仪和扫描电子显微系统的特性，既可以快速得到被观察样品的3D外观形貌以及3D尺寸，通过丰富的分析软件可以获得材料的粗糙度、厚度、表面凹凸的数量、体积和比表面积以及颗粒度。
联系途径
实验室：凌峰楼301室
电话：13860160151
E-mail：wangyange@xmu.edu.cn
仪器管理组
王衍戈
